tan6测试时，随着试验电压U的变化，tan6值呈开口环曲线，则试品属于（C绝缘受潮）（）

对于额定电压为35kV及以上的设备，测试tan6时一般升压至（） 采用移相法测量电气设备介质损耗角正切值tan6时，如果移相成功，试验电流与干扰电流同相位，则电源正反相测得的两个tan6应（C相等）（） 西林电桥测试tan6时升压试验一般采用电压等级为110kV的电压互感器（） 在绝缘试验时通过测量介质损耗角的正切值tan6来检验介质损耗的大小（） 测量电气设备介质损耗角正切值tan6时，消除电场干扰影响的方法中使用移相器改变试验电压的相位在试验电流与干扰电流相同和相反两种情况下分别测量tan6的方法称为移相法（） 当被试品具有较大电容时tan6测试只能反映整体的绝缘状况（） 当试验电压U及电源频率ω一定、被试品的电容值也一定时介质损耗P与tan6成反比（） 当试验电压U及电源频率ω一定、被试品的电容值也一定时，介质损耗P与tan6成（B正比）（） 测量电气设备介质损耗角正切值tan6时，消除电场干扰影响的方法中使用移相器改变试验电压的相位在试验电流与干扰电流相同和相反两种情况下分别测量tan6的方法称为（C移相法）（） 对于额定电压为35kV及以上的设备，测试tan6时一般升压至10kV（） 对于额定电压为35kV及以上的设备，测试tan6时一般升压至（A10kV）（） 介质损耗角正切值tan6对局部集中缺陷不太灵敏时，一般将设备进行分解试验（） 一般认为，电力变压器绕组tan6测试时的温度以10-40℃为宜（） 当试品绝缘中存在气隙时，随着试验电压U的变化，tanδ值呈闭合的环状曲线。 当试品绝缘中存在气隙时，随着试验电压U的变化，tanδ值呈闭合的环状曲线。 当试品绝缘中存在气隙时，随着试验电压U的变化，tanδ值呈闭合的环状曲线（） 测量电气设备介质损耗角正切值tan6时，消除电场干扰影响的方法中利用改变试验电源的相位，使外电场的干扰产生相反的结果，再对选相倒相前后各次测试所得数据进行计算，选取误差较小的tan6值的方法称为（B选相倒相法）（） 测量电气设备介质损耗角正切值tan6时，消除电场干扰影响的方法中利用改变试验电源的相位，使外电场的干扰产生相反的结果，再对选相倒相前后各次测试所得数据进行计算，选取误差较小的tan6值的方法称为选相倒相法（） 当试品绝缘中存在气隙时，随着试验电压U的变化，tanδ值呈闭台的环状曲线（） 采用QS1电桥测量tan6正接线比反接线准确度低（）