DB-H2试块主要用于测定斜探头的（）

CSK-IA试块利用试块直角棱边测定斜探头的声轴直角（） 阶梯试块主要用于测定的距离幅度特性（） IIW试块的Φ50台阶孔有利测定斜探头的（） 测定斜探头K值时，应探测CSK—IA试块圆弧面 利用SK-1A试块上直角棱边可测定斜探头（） 测定斜探头K值时，应探测CSK—IA试块圆弧面 探头处于CSK-1A试块R100探测面时，可以测定斜探头的（） 与IIW试块相比，CSKⅠA试块的优点之一是可以测定斜探头的分辨力。 与IIW试块相比，CSKⅠA试块的优点之一是可以测定斜探头的分辨力（） CSK-IA试块的Φ50台阶孔有利测定斜探头的（） CSK-1A试块f40、f44、f50、台阶孔，主要用来测试斜探头的（） CSK-1A试块R100mm的反射面主要用来测试斜探头的折射角（） CSK-ⅠA、CSK-ⅢA、CSK-Ⅳ试块主要用于制作横波距离-波幅曲线、校准斜探头的K值、横波扫描速度和检测灵敏度等（） CSK-1A试块利用校定时期基线或测定斜探头的入射点（） 斜探头的K值常用CSK-ⅠA试块上的φ50和φ1.5横孔来测定。 斜探头的K值常用CSK-ⅠA试块上的φ50和φ1.5横孔来测定（） WGT-3试块主要用于的距离幅度特性和楔内回波幅度，也可作为37°和70°探头灵敏度余量的测定（） 测试探头楔内回波时，0度探头可以阶梯试块上、斜探头可在WGT-3试块上测试（） IIW试块测定斜探头的入射点，在探测任何声速的试件时其位置不变。 IIW试块测定斜探头的入射点，在探测任何声速的试件时其位置不变（）