单选题

THDS(哈科所)探测站中光子探头元件温度异常可能产生的原因是()

A. 热靶温控板故障
B. 前放板故障
C. IO卡故障
D. 制冷控制板故障

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单选题
THDS(哈科所)探测站中光子探头元件温度异常可能产生的原因是()
A.热靶温控板故障 B.前放板故障 C.IO卡故障 D.制冷控制板故障
答案
单选题
THDS(哈科所)探测站,光子探头元件温度异常会造成()
A.测温误差大 B.测温良好 C.测温稳定 D.测温不变
答案
单选题
THDS-B(哈科所)探测站,光子探头元件温度异常会造成()
A.测温误差大 B.测温良好 C.测温稳定 D.测温不变
答案
判断题
THDS-C(哈科所)红外轴温探测系统,光子探头元件温度异常可能与光子探头有关()
答案
多选题
THDS(哈科所)探测站,光子探头板温异常产生的后果()
A.探头出现问题 B.无法正确测曲线 C.环温出现异常 D.影响轴温测温精度 E.不影响轴温测温精度
答案
单选题
THDS-A(哈科所)探测站中,光子探头元件温度变化超过系统要自动进行热靶标定()
A.±0.5度 B.±1度 C.±1.5度 D.±2度
答案
单选题
THDS-A(哈科所)探测站,红外轴温探测系统光子探头元件温度超过正常值范围,有可能造成探头测温()
A.异常 B.正常 C.不变 D.以上都不对
答案
单选题
THDS-A(哈科所)探测站光子探头的元件温度是由控制箱内的控制的()
A.制冷控制板 B.加热控制板 C.控制板 D.前放板
答案
单选题
THDS-A(哈科所)探测站,红外轴温探测系统光子探头元件温度正常值范围是()
A.小于0℃ B.大于20℃ C.大于0℃ D.大于30℃
答案
单选题
THDS(哈科所)探测站光子探头采用芯插头()
A.12 B.13 C.14 D.15
答案
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