THDS-C（哈科所）红外轴温探测系统，光子探头元件温度异常可能与光子探头有关（）

THDS（哈科所）探测站,红外轴温探测系统光子探头手动调整制冷后，元件制冷电流大约为（） THDS-A（哈科所）探测站,红外轴温探测系统光子探头手动调整制冷后，元件制冷电流大约为（） THDS-B（哈科所）红外轴温探测系统光子探头的元件温度是由控制箱内的探头温控板控制的（） THDS-C（哈科所）红外轴温探测系统光子探头的元件温度是由控制箱内的探头温控板控制的（） THDS-A（哈科所）红外轴温探测系统，光子探头的动态噪声超标必须要更换光子探头（） THDS-B（哈科）红外轴温探测系统光子探头轴温信号由处理（） THDS-C（哈科所）探测站,红外轴温探测系统光子探头手动调整制冷后，元件制冷电流大约为（） THDS-B（哈科所）红外轴温探测系统，光子探头的动态噪声超标必须要更换光子探头（） THDS（哈科所）红外轴温探测系统，光子探头的静态噪声是恒定不变的（） THDS（哈科所）红外轴温探测系统，探头插头松动会造成元件温度异常，无法正常采集信号（） THDS（哈科所）探测站,红外轴温探测系统元件温度与正常值偏离较大，就会造成探头测温（） THDS-C（哈科所）红外轴温探测系统，光子探头的静态噪声是恒定不变的（） THDS-B（哈科所）红外轴温探测系统，光子探头的静态噪声是恒定不变的（） THDS-A（哈科所）探测站,红外轴温探测系统光子探头手动调整制冷电流的调整时间为（） THDS-A（哈科所）红外轴温探测系统，探头插头松动会造成元件温度异常，无法正常采集信号（） THDS-C（哈科所）探测站,红外轴温探测系统光子探头手动调整制冷电流的调整时间为（） THDS-B（哈科所）红外轴温探测系统，探头插头松动会造成元件温度异常，无法正常采集信号（） THDS-B（哈科所）探测站,红外轴温探测系统元件温度与正常值偏离较大，就会造成探头测温（） THDS（哈科所）红外轴温探测系统，板盘温度越高，探头所测得的轴温也相应提高（） THDS-A（哈科所）红外轴温探测系统，光子探头的制冷电流不稳定容易造成探头测温出现误差（）