X射线荧光光谱标准加入法可通过（）求得试样的分析结果

X射线荧光光谱内标法，即把一定量的内标元素加入到标准试料及分析试料中，以标准试料中分析元素与内标元素的X射线荧光强度比与分析元素含量绘制校准曲线。测定分析试料的分析元素与内标元素的X射线荧光强度比，从校准曲线求得分析元素含量（） X射线荧光光谱法中，分析微量Si的样品不能用（）磨料抛光 X射线荧光光谱法中，常用的波长范围在（） X射线荧光光谱分析的试样，可以是固态，也可以是水溶液。试样制备的情况对测定误差无影响。 X射线荧光光谱分析的试样，可以是固态，也可以是水溶液。试样制备的情况对测定误差无影响（） X射线荧光光谱法分析线的强度与分析面的磨纹方向有关，因此，在测量时采取转动试样的方法，以减少误差（） X射线荧光光谱法分析线的强度与分析面的磨纹方向有关，因此，在测量时采取转动试样的方法，以减少误差（） X射线荧光光谱分析形成误差的可能性是( )。 色散型X射线荧光光谱仪分为（） X射线荧光光谱仪包涵下述（）类型（） X荧光的特征能量和强度是X射线荧光光谱定性和定量分析的基础（） X射线荧光光谱法为了获得准确的定量分析结果，应使用有证的标准样品，标准样品与分析试料的（）尽可能一致 X射线荧光光谱仪的X射线发生器由（）构成。 （）是X射线荧光光谱仪的分光器件。 X射线荧光光谱仪可分为（）类。 X射线荧光光谱仪灵敏度高 光电直读光谱和X射线萤光光谱分析都属于（）分析法。 X射线荧光光谱仪可测出样品中的：（）. X射线荧光光谱法中，处理粉末样品的方法主要有压片法和（） X射线荧光光谱分析康普顿散射线内标法不能校正基体的吸收效应，只能校正增强效应。