多选题

X荧光分析中,金属块状样品抛光条纹会引起屏蔽效应,测量时需要采用方式消除()

A. 多次测量
B. 试样自转
C. 清洗表面
D. 试样与标样磨痕一致

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多选题
X荧光分析中,金属块状样品抛光条纹会引起屏蔽效应,测量时需要采用方式消除()
A.多次测量 B.试样自转 C.清洗表面 D.试样与标样磨痕一致
答案
主观题
X射线荧光分析金属块状试样有什么要求
答案
多选题
X射线荧光分析金属块状试样的要求有()
A.样块大小合适 B.有一合适的平面且平整光洁无裂纹无气孔等 C.表面干净无污染 D.研磨纹路方向一致
答案
主观题
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答案
主观题
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答案
多选题
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答案
多选题
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答案
判断题
在X射线荧光光谱分析中,样品中除分析元素以外的全部元素为基体,基体元素对分析元素的影响叫基体效应。
答案
判断题
在X射线荧光光谱分析中,样品中除分析元素以外的全部元素为基体,基体元素对分析元素的影响叫基体效应()
答案
主观题
X射线荧光光谱法可以分析( )样品
答案
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