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X荧光分析中,金属块状样品抛光条纹会引起屏蔽效应,测量时需要采用方式消除()
多选题
X荧光分析中,金属块状样品抛光条纹会引起屏蔽效应,测量时需要采用方式消除()
A. 多次测量
B. 试样自转
C. 清洗表面
D. 试样与标样磨痕一致
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多选题
X荧光分析中,金属块状样品抛光条纹会引起屏蔽效应,测量时需要采用方式消除()
A.多次测量 B.试样自转 C.清洗表面 D.试样与标样磨痕一致
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答案
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判断题
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答案
判断题
在X射线荧光光谱分析中,样品中除分析元素以外的全部元素为基体,基体元素对分析元素的影响叫基体效应()
答案
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答案
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在X射线荧光分析中内标法往往可以采用将样品制成溶液的形式或以熔剂熔融的方式进行。
在X射线荧光分析中内标法往往可以采用将样品制成溶液的形式或以熔剂熔融的方式进行()
X射线荧光分析时基体效应的基体,是指分析时试样中除()元素本身外其它所有的元素
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