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在X射线荧光分析中内标法往往可以采用将样品制成溶液的形式或以熔剂熔融的方式进行。
判断题
在X射线荧光分析中内标法往往可以采用将样品制成溶液的形式或以熔剂熔融的方式进行。
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在X射线荧光分析中内标法往往可以采用将样品制成溶液的形式或以熔剂熔融的方式进行。
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判断题
在X射线荧光分析中内标法往往可以采用将样品制成溶液的形式或以熔剂熔融的方式进行()
答案
主观题
X射线荧光光谱法可以分析( )样品
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单选题
铁矿石X射线荧光熔融法中内标用的是()
A.射线管Rh靶线 B.Okα线 C.Cokα线 D.Cokβ
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判断题
X射线荧光光谱内标法,即把一定量的内标元素加入到标准试料及分析试料中,以标准试料中分析元素与内标元素的X射线荧光强度比与分析元素含量绘制校准曲线。测定分析试料的分析元素与内标元素的X射线荧光强度比,从校准曲线求得分析元素含量。
答案
判断题
X射线荧光光谱内标法,即把一定量的内标元素加入到标准试料及分析试料中,以标准试料中分析元素与内标元素的X射线荧光强度比与分析元素含量绘制校准曲线。测定分析试料的分析元素与内标元素的X射线荧光强度比,从校准曲线求得分析元素含量()
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主观题
X射线荧光光谱法中,分析微量Si的样品不能用()磨料抛光
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多选题
在X射线荧光分析中,当样品研磨到极细时,则()基本消失;将样品制成薄层并薄到临界厚度以下时,分析线所受的()与样品的组成无关
A.均匀性 B.粒度效应 C.辐射 D.吸收-增强效应
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判断题
X射线荧光光谱分析康普顿散射线内标法是根据靶线的康普顿散射线的强度很敏感地受样品成分的影响而设计的分析方法。
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多选题
X射线荧光分析粉末试样时,采用玻璃熔片法可以消除()带来的分析误差
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X射线荧光光谱法可以分析所有的元素。
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X射线荧光光谱分析康普顿散射线内标法不能校正基体的吸收效应,只能校正增强效应。
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X射线荧光分析法所应用的元素固有的荧光X射线波长为()
用X射线照射样品物质所产生的()称为X射线荧光
X射线荧光光谱法中,处理粉末样品的方法主要有压片法和()
X射线荧光法中的荧光指()
X射线荧光光谱仪可测出样品中的:().
输变电构支架镀锌层厚度检测,可以采用X射线荧光法()
X荧光分析法分析灰石粉末样品,样品的()会造成分析误差()
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原子受高能辐射,其外层电子发生能级跃迁,发射出特征X射线(X射线荧光),通过测定其强度进行定量分析的方法被称为X射线荧光分析法()
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X射线荧光分析标准添加法和稀释法中,仍需要标准和校准曲线。
X射线荧光分析连续X射线中短波限与()有关
X射线荧光仪可进行()分析。
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