当被试品具有较大电容时，tanδ测试只能反映整体的绝缘状况（）

西林电桥测试tanδ时采用正接线时适用于被试品整体与地隔离时的测量。 对于电容量较大的试品 （例如套管、互感器等），测量 tanδ能有效地发现 局部集中性缺陷和整体分布性缺陷 。但对电容量较小的试品 （例如大中型发 电机、变压器、电力电缆、电力电容器等）测量 tanδ只能发现整体分布性 缺陷（） 对于电容量较大的试品 （例如套管、互感器等），测量 tanδ能有效地发现 局部集中性缺陷和整体分布性缺陷 。但对电容量较小的试品 （例如大中型发 电机、变压器、电力电缆、电力电容器等）测量 tanδ只能发现整体分布性 缺陷 。 温度对tanδ测试结果具有较大影响，一般同一被试设备，tanδ随温度的升高而（） 温度对tanδ测试结果具有较大影响，一般同一被试设备，tanδ随温度的升高而升高。 具有较大电感或对地电容的被试品在测量直流电阻后，应对被试品进行()。 当被试品本身电容量较大时，可采用串联谐振法进行交流耐压试验（） 当被试品本身电容量较大时，可采用串联谐振法进行交流耐压试验（） 西林电桥测试tanδ时采用()时适用于被试品不能与地隔离时的测量。 tan6测试时，随着试验电压U的变化，tan6值呈开口环曲线，则试品属于（C绝缘受潮）（） 具有较大电感或对地电容的被试品在测量直流电阻后，应对被试品进行（C接地放电）（） 当被试品本身电容量较大时，可采用串并联谐振法进行交流耐压试验。 当试品绝缘受潮时，随着试验电压U的变化，tanδ值呈开口环曲线。 当试品绝缘受潮时，随着试验电压U的变化，tanδ值呈开口环曲线（） 西林电桥测试tanδ时采用正接线时适用于被试品不能与地隔离时的测量（） 当试品绝缘受潮时随着试验电压U的变化，tan6值呈开口环曲线（） tanδ测试时，随着试验电压U的变化，tanδ值呈开口环曲线，则试品属于（） tan6测试时，随着试验电压U的变化，tan6值呈闭合的环状曲线，则试品属于（B绝缘中存在气隙）（） tanδ测试时，随着试验电压U的变化，tanδ值呈闭合的环状曲线，则试品属于（） 试品绝缘表面脏污、受潮，在试验电压下产生表面泄漏电流，对试品tanδ和C测量结果的影响程度与试品电容量的大小无关。（）