THDS-A（哈科所）红外轴温探测系统，元件温度不稳定或有跳变，容易造成探头碲镉汞器件的响应率稳定（）

THDS-A（哈科所）红外轴温探测系统，光子探头的制冷电流不稳定容易造成探头测温出现误差（） THDS-C（哈科所）红外轴温探测系统，光子探头的制冷电流不稳定容易造成探头测温出现误差（） THDS-A（哈科所）探测站,红外轴温探测系统如果报元件温度故障，可能是（） THDS-A（哈科所）探测站,红外轴温探测系统光子探头元件温度正常值范围是（） THDS-C（哈科所）探测站,红外轴温探测系统光子探头元件温度正常值范围是（） THDS（哈科所）探测站,红外轴温探测系统单侧元件温度接近环温时，可能是造成的（） THDS-A（哈科所）探测站,红外轴温探测系统单侧元件温度接近环温时，可能是造成的（） THDS（哈科所）探测站,红外轴温探测系统元件温度与正常值偏离较大，就会造成探头测温（） THDS（哈科所）红外轴温探测系统，探头插头松动会造成元件温度异常，无法正常采集信号（） THDS-C（哈科所）探测站,红外轴温探测系统单侧元件温度接近环温时，可能是造成的（） THDS（哈科所）探测站,红外轴温探测系统光子探头碲镉汞元件温度调整，具有种调整制冷方式（） THDS（哈科所）探测站,红外轴温探测系统光子探头的元件温度是由控制箱内的控制的（） THDS-B（哈科所）红外轴温探测系统，如果报元件温度故障，可能是热靶故障（） THDS-B（哈科所）红外轴温探测系统，光子探头元件工作温度应该为0度以下（） THDS-C（哈科所）红外轴温探测系统，光子探头元件温度异常可能与光子探头有关（） THDS-C（哈科所）红外轴温探测系统，如果报元件温度故障，可能是热靶故障（） THDS-C（哈科所）红外轴温探测系统，光子探头元件工作温度应该为0度以下（） THDS-A（哈科所）红外轴温探测系统，探头插头松动会造成元件温度异常，无法正常采集信号（） THDS-BS红外轴温探测系统器件温度不稳定会造成测温精度下降（） THDS-A（哈科所）探测站,红外轴温探测系统光子探头的元件温度是由控制箱内的控制的（）