登录/
注册
题库分类
下载APP
帮助中心
首页
考试
搜题
APP
当前位置:
首页
>
查试题
>
X射线荧光分析粉末试样时,采用玻璃熔片法可以消除()带来的分析误差
多选题
X射线荧光分析粉末试样时,采用玻璃熔片法可以消除()带来的分析误差
A. 粒度效应
B. 吸收
C. 增强
D. 矿物效应
查看答案
该试题由用户824****82提供
查看答案人数:19436
如遇到问题请
联系客服
正确答案
该试题由用户824****82提供
查看答案人数:19437
如遇到问题请
联系客服
搜索
相关试题
换一换
多选题
X射线荧光分析粉末试样时,采用玻璃熔片法可以消除()带来的分析误差
A.粒度效应 B.吸收 C.增强 D.矿物效应
答案
多选题
X射线荧光光谱标准加入法可通过()求得试样的分析结果
A.计算法 B.实验 C.作图法 D.回归方程
答案
主观题
X射线荧光分析金属块状试样有什么要求
答案
多选题
X射线荧光分析金属块状试样的要求有()
A.样块大小合适 B.有一合适的平面且平整光洁无裂纹无气孔等 C.表面干净无污染 D.研磨纹路方向一致
答案
主观题
X射线荧光仪对粉末样品粒度要求较高,一般要求试样过()
答案
主观题
X射线荧光光谱法可以分析( )样品
答案
判断题
X射线荧光光谱法可以分析所有的元素。
答案
判断题
X射线荧光光谱法可以分析所有的元素()
答案
单选题
X射线荧光光谱法中,当试样的有效照射面积缩小时,元素的X射线荧光强度()
A.增大 B.减小 C.不变 D.无变化
答案
单选题
X射线荧光分析法所应用的元素固有的荧光X射线波长为()
A.全谱段波长 B.0.001~10nm C.0.01~120nm D.0.1~800nm
答案
热门试题
X射线荧光光谱分析的试样,可以是固态,也可以是水溶液。试样制备的情况对测定误差无影响。
X射线荧光光谱分析的试样,可以是固态,也可以是水溶液。试样制备的情况对测定误差无影响()
X射线荧光光谱法中,处理粉末样品的方法主要有压片法和()
输变电构支架镀锌层厚度检测,可以采用X射线荧光法()
在X射线荧光分析中,一个理想的待测固体试样应满足()
X射线荧光分析时基体效应的基体,是指分析时试样中除()元素本身外其它所有的元素
在X射线荧光分析中内标法往往可以采用将样品制成溶液的形式或以熔剂熔融的方式进行。
在X射线荧光分析中内标法往往可以采用将样品制成溶液的形式或以熔剂熔融的方式进行()
X射线荧光光谱法分析线的强度与分析面的磨纹方向有关,因此,在测量时采取转动试样的方法,以减少误差()
X射线荧光光谱法分析线的强度与分析面的磨纹方向有关,因此,在测量时采取转动试样的方法,以减少误差()
X射线荧光的()与元素的种类有关,据此可以进行定性分析,X射线荧光的()与元素的含量有关,据此可以进行定量分析
原子受高能辐射,其外层电子发生能级跃迁,发射出特征X射线(X射线荧光),通过测定其强度进行定量分析的方法被称为X射线荧光分析法()
X荧光分析法分析灰石粉末样品,样品的()会造成分析误差()
X射线荧光法中的荧光指()
X射线荧光分析连续X射线中短波限与()有关
X射线荧光仪可进行()分析。
通过测定试样中特征X射线的波长,便可确定存在何种元素,即为X-荧光光谱定性分析()
X射线荧光光谱法基本上是一种()分析法
波长色散X射线荧光光谱仪使用滤光片的目的是消除或者降低来自X射线管发射的原级X射线谱,尤其是靶材的特征X射线谱对待测元素的干扰。
X射线荧光光谱分析中,适当选择分析晶体是消除谱线重叠干扰方法之一。
购买搜题卡
会员须知
|
联系客服
免费查看答案
购买搜题卡
会员须知
|
联系客服
关注公众号,回复验证码
享30次免费查看答案
微信扫码关注 立即领取
恭喜获得奖励,快去免费查看答案吧~
去查看答案
全站题库适用,可用于E考试网网站及系列App
只用于搜题看答案,不支持试卷、题库练习 ,下载APP还可体验拍照搜题和语音搜索
支付方式
首次登录享
免费查看答案
20
次
微信扫码登录
账号登录
短信登录
使用微信扫一扫登录
获取验证码
立即登录
我已阅读并同意《用户协议》
免费注册
新用户使用手机号登录直接完成注册
忘记密码
登录成功
首次登录已为您完成账号注册,
可在
【个人中心】
修改密码或在登录时选择忘记密码
账号登录默认密码:
手机号后六位
我知道了
APP
下载
手机浏览器 扫码下载
关注
公众号
微信扫码关注
微信
小程序
微信扫码关注
领取
资料
微信扫码添加老师微信
TOP