用西林电桥测试tan6时消除表面泄漏电流的接线方法是利用将表面泄漏电流直接回流到试验电源（B屏蔽环）（）

测量电气设备介质损耗角正切值tan6时，消除电场干扰影响的方法中使用移相器改变试验电压的相位在试验电流与干扰电流相同和相反两种情况下分别测量tan6的方法称为移相法（） 西林电桥采用正接线及反接线时，其测试原理（A相同）（） 测量电气设备介质损耗角正切值tan6时，消除电场干扰影响的方法中使用移相器改变试验电压的相位在试验电流与干扰电流相同和相反两种情况下分别测量tan6的方法称为（C移相法）（） tan6测试时，随着试验电压U的变化，tan6值呈闭合的环状曲线，则试品属于（B绝缘中存在气隙）（） 测量避雷器的泄漏电流时为防止表面泄漏电流的影响，测试前应将瓷套表面擦拭干净（） 直流高压试验试品表面泄漏电流较大时，应加（），予以消除。 西林电桥测试tanδ时采用()时适用于被试品不能与地隔离时的测量。 西林电桥测试tanδ时采用（）时适用于被试品整体与地隔离时的测量。 当被试品具有较大电容时tan6测试只能反映整体的绝缘状况（） 在绝缘子零值检测时，以下哪些方法可以消除表面泄漏电流的影响（）。 在测量泄漏电流时如何排除被试品表面泄漏电流的影响？ 采用移相法测量电气设备介质损耗角正切值tan6时，如果移相成功，试验电流与干扰电流同相位，则电源正反相测得的两个tan6应（C相等）（） 采用QS1电桥测量tan6反接线时电桥的三根引线应按试验电压对地绝缘对接地物体保持一定的绝缘距离，一般不小于（C125mm）（） 用QS1型西林电桥测tgδ，消除电场干扰的方法有哪些？ 用QS1型西林电桥测tgδ，消除电场干扰的方法有哪些 测量电气设备介质损耗角正切值tan6时，消除电场干扰影响的方法中利用改变试验电源的相位，使外电场的干扰产生相反的结果，再对选相倒相前后各次测试所得数据进行计算，选取误差较小的tan6值的方法称为（B选相倒相法）（） 测量电气设备介质损耗角正切值tan6时，消除电场干扰影响的方法中利用改变试验电源的相位，使外电场的干扰产生相反的结果，再对选相倒相前后各次测试所得数据进行计算，选取误差较小的tan6值的方法称为选相倒相法（） 电力电缆泄漏电流测试消除电缆终端头对地杂散电流的影响可以（ ）。 在相同条件下，用QS1型西林电桥测量小电容试品的tanδ和C时，用正接线方式和反接线方式测量的结果是完全相同的（） 西林电桥采用正接线和反接线时原理相同（）