CSK-1A试块Φ50有机玻璃可以测定直探头的盲区和

利用CSK-1A试块上∮50mm曲面和∮1.5mm横孔可测定斜探头（） 利用CSK-1试块上∮50mm曲面和∮1.5mm横孔可测定斜探头（） 利用IIW试块上的φ50孔两侧面的距离，只能测定直探头盲区的大致范围。 利用IIW试块50mm孔与两侧面距离，能测定直探头盲区的大致范围（） 利用IIW试块上的φ50孔两侧面的距离，只能测定直探头盲区的大致范围（） CSK-1A试块能测定探伤仪和探头的哪些指标（） CSK-IA试块的Φ50台阶孔有利测定斜探头的（） 斜探头的K值常用CSK-ⅠA试块上的φ50和φ1.5横孔来测定。 斜探头的K值常用CSK-ⅠA试块上的φ50和φ1.5横孔来测定（） 可利用CSK-1A试块R50和R100两个曲面测定斜探头分辨率（） 利用IIW试块上Φ50mm孔与两侧面的距离，仅能测定直探头盲区的大致范围（） CSK-IA试块利用R50和R100校订时基线或测定斜探头的（） 试块的用途有哪些？CSK－IA试块可测定仪器和探头的哪些性能？ 与IIW试块相比，CSKⅠA试块的优点之一是可以测定斜探头的分辨力。 与IIW试块相比，CSKⅠA试块的优点之一是可以测定斜探头的分辨力（） 斜探头在工作时，有机玻璃楔块传播的是横波（） CSK-IA试块利用试块直角棱边测定斜探头的声轴直角（） CSK-1A试块利用校定时期基线或测定斜探头的入射点（） CSK-1A试块Ф40、Ф44、Ф50、台阶孔,主要用来测试斜探头的（） CSK-1A试块Ф40、Φ44、Φ50、台阶孔，主要用来测试斜探头的（）